JIS Z 4334: Reference sources for the calibration of surface contamination monitors -- Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters

2005·2.2 MB·Japanese

by  Japan Standards Association (JSA)

JAPAN
≠ EDICT OF GOVERNMENT ±
In order to promote public education and public safety, equal justice for all,
a better informed citizenry, the rule of law, world trade and world peace,
this legal document is hereby made available on a noncommercial basis, as it
is the right of all humans to know and speak the laws that govern them.
JIS Z 4334 (2005) (Japanese): Reference sources
for the calibration of surface contamination
monitors -- Beta-emitters (maximum beta energy
greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters
The citizens of a nation must
honor the laws of the land.
Fukuzawa Yukichi

放射性表面汚染モニタ校正用線源-
β 線放出核種(最大エネルギー0.15 MeV 以上)
及び α 線放出核種
JISZ4334 : 2ω
(JEMIMAIJ SA)
(2009冊;認)
-成 17 年 3 月 20 日改正
日本工業標準調査会審議
(円本現格協会発行)
h作t~訟により照断でのE盟国. 転時ヲFはf主11:されております
Z4 334 :2 005
日本工業保~，凋1立会際準部会戸1-測J十以技術専門香n会情成夫
氏名 所
(香口会長) 侃付佑二 財団法人機械娠興協会
(委[1) 石崎法夫 独立行政法人製品評価技術ぜ
井戸 印j 社開法人H本低気J十測ìm 仁~会
伊 j泌尚美 社間法人1:14:社町機器工業迎合会
大仙!成夫 点可(~設機大学
間路正問 独立行政法人産業技術総合研究所
メIj 谷 lli 郎 株式会社ニコン
河野f 嗣明 W:;i(都立科学校術大学名作教授
尚辻 1長雄 円本制栴測定機禄工業会
桜井出好 ~J立学?
主務大臣:経済産業大臣 制定:平成4.3.1 改正:平成 17.3.20
官報公示:平成 17.3.22
JJ;T 案作成者:社団法人日本沼会UI割1涼工業会
(干105・0001 東京都港区虎ノ1"11-9-10 ，汁湖会館 TEL03・3502・0603)
財団法人円本出格協会
(干107・8440 *点都港区赤坂4・ト24 TEL03・5770・1573)
留品部会: U4>:工店開閉よj査会ぬ市部会(部会長二瓶好ïF.)
マ;富町1"1妥LJ会 :2十測，niJ伎術作門委II会 (.~u会長 出村 時二)
この規格についての窓見文はnl~J'i. 上，;è原案作成者又は経済産業/ü産業技術環境局基準1認証ユニァト度来基盤絞首!‘
化推進室(〒100-8901 点JH都千代出lX:iヨが|問 1・3・1) にご連絡ください。
なお. FI本工業規怖は. [1:ι判(~化法第 15 条の組定によって.少なくとも 5年を経過する fl までに1=1本
会の市議に付され.速やかに.磁.æ.改正又は廃止されます。
;(~・1ゐ訟にI:')~断での慣興. 転将軍は:，tllてされており主す.
Z4 334 :2 005
まえがき
この規格は，工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき，社司法人日
計測器工業会(JEMlMA)/対団法人百本規格協会(JSA)から，工業標準涼案を具して日本工業規格を改正す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって， JIS Z4 334: 1992 法改正され，この規擦に寵き挽えられる
改正に当たっては，日本工業規格と国捺規格との対比，匡l騒規格に一致した日本工業規格の詐成及び日
した を容易にするために， ISO 8769: 1988, Reference sources for the
calibration of surface contamination monitors - (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and
Beta幽emitters
alpha-emitteτs を基礎として用いた。
この規格の一部が，技能的性質をもっ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案権登録出顕に抵触する可能性があることに在意を喚起する。経済車業大田及び日
会は，このような技能的性質をもっ特許権，出願公開後の持許出願，実用新案権，又は出願公開後の実舟
かかわる確認について，責任はもたない。
JIS Z4 334 には，次iこ示す附韻書がある。
前属書: (拳考) JIS と対応する国際規格との対諸表
J'i-ｭ色、 Ir、も
著作権訟により無断で、の複製，転lf'iX警は禁止されております
Z4 334 :2 005
呂次
二戸/
序文・・・・..
1. 連用範囲…
2. 引用規格・…・
3. 定義….....・H・-……H・H・-…
4.
参照標準綿源のトレーサピリティ …ー....................................................・・・・・・ー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・2
5. 線源、の特性， 性能及び轡造....・H・-…・・・・・・・w・・・・・・・・・・・・..................".........................................・・・・・‘・・・・・e・・・・・e・・・・・・・・・・・砂奪・・・・・・・・e・・・ 3
5.1
一般f土撮.....・H・-…H・H・...
5.2 クラス 1 参類標準線源・・H・H・..
5.3
クラス 2 参照標準緯源…...............零・・......................................................................."'....................................................φ..............・・4
5.4 実用標準隷j諜 …・・・・・・・・・.. ~. . .... . ... . .....‘.................・・・・・・・・・・・‘・・・・・・・・・・e・・・・・・・・・・・・・・‘*‘e・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・4
a
仲介灘定器…ぃ
6.1 伸介測定器.......・a・...
6.2
校正…H・H・..........
附麗書 (参考) JIS と対応する盟際規格との対比表・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・z・・・・a・・・・・・・・・・・・e・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・a・・・・・・・・・・・b・・・........6
解説・・…
(2)
著ít総j去により1nu析での謹製， れております。
JIS
日本工業規格
Z4 334:
2005
放射性表面汚染モニタ校正用線源一
β 線放出核種(最大エネルギー0.15 MeV 以上)
及び α 線放出核種
sources for the calibration of surface contanlination monitors
問。ference
(maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and
Beta酬emitters
alpha同emitters
序文こ 1988年に第 l 版として発行さ ISO 8769, Reference sources for the calibration of surf註ce
contaminat卲n monitors-Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters を語訳し，
技能的内容を変更して作成した呂本工業規絡である。
なお，この規謡で点線の下線を施してるる箆所は，原国際規格を変更している事項であるc
その説明を{すけて，附属書(参考)に
1. 適用範聞 この規格は，放封性表面汚染モニタを校正するための大面積の標準線源について規定する。
この境謡は， β線放出核種(最大エネルギーがな15 MeV 以上)及びα諒放出核種を適用組問!とし， α
又はβ隷表面投:1\率で校正する標準線源の持牲を規定するものであって，これらの緯揺を使った放射性表
面汚染モニタの校正方法を規定するものではない。
備考1. 標準隷涯を用いた放射性表而汚染モニタの校正方法については， JIS思 4504 による。
2. この規格の対応閏捺規揺を，次に示す。
なお，対応の程度を ISO/IEC Guide 21 ~こ基づき， IDT (一致している)， MOD
(移正している)， NEQ い)とする。
ISO 8769: 1988, Reference sources for the calibration of surface contamination monitorsｭ
Betaωemitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters (MOD)
2. 51賠規格 次に掲げる規格試，この規揺に引用されることによって，この境搭の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版(追捕を含む。)を適用する。
JIS Z4 001 原子力用語
備考 ISO 921 Nuc1ear energy -Vocabulary, IEC 60050柵393 lnternational 日ωtrotechnical Vocabulary -
Chapter 393 及びI主C600きか394International Electrotechnical Vocabulary -Chapter 394 からのさi
は，この規格の該当事項と同等である。
.JIS Z4 504 投射性表面汚染の測定方法
備考 ISO 7503-1: 1988 Evaluation of surface contamination -Part 1: Beta-emitters (maximum beta
手ぎ作t伝法により 11:さオLておりま
2
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energy greater than 0.15M eV) and alpha引nitters からのき は，こ と i司等
である。
JIS Z8 103 計測!用語
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は， JIS Z4 001 及びJISZ8 103 によるほか，次による。
a) .1Æ肘j土表曹汚染芳-…_~~l:I_IJ~Ç~ _~t ?_~~.月!11111811m-型空聖堂t?I~L……;誤射J主去ITïtt'互換用立:τ~_~rl三乏しーっーと
b) 義語放出率 (surfaceemission rate) 隷源の表面又は線源窓から単位時間に放出されるあるエネルギ
以上の特定の粒子の数。
的 機器効率 Ünstrumentefficiency) 隷源に対して，決められた幾荷学的条件で測定したときの測定器
の正味計数率と線源の表面放1J1率との比e)。
注e) 機器効率は，放封嬢のエネルギーに依存する
d) 隷漂効率 (sourceefficiency) 表而放出率と線源 さ以上の厚さの線源は龍和屠)の
位時間に放出される同じ種類の放射綜粒子数の比(う。
注e) 線源効率は，この定義によれば0.5 を超えないこととなるが，後方散乱によって， 0.5 より高く
なることもあるo
e) 均一性 (uniformiが 線源の全表面にわたって測定した単柱部積当たりの表同放出率のばらつき。
線虫ii表面全捧の平均値に対する各部分の測定額の標準語差を平均値に対する百分率で表し，分割の
10 cm2又はそれ以下とする。
寵考1. 均…性の評価tn去には，放出される最大エネルギ~の粒子を吸収で、きる十分な厚さをもち，
な大きさの穴が為いたマスキングプレートを線源と検出器との間に挿入して測定する
どがある。
2. 隷訴の均一牲が-十分 きれば， 手日用して測定器を校正してもよい。
4. 参照標準線源のトレーサビリティ 放射性表面汚染モニタの校正に用いる実用襟車線源は苧参照標準
諒源及び悼介測定器を介して同家探準にトレーサピリティがあるものでなければなもない。このトレーサ
ピワティを明確にするために参指標準諒源を，次の 2 種類に分類する
a) クラス l 参照標準線源家標準機関が，表面放IH率を校正した
参考 我が医iの放射能に関する国家標準機関は，独立行政法人産業技術総合研究所である。
b) クラス 2 :核種及び一般構造が同一のクラス l 参照標準綜源で校正した待介制定器を用
いて，
ピ
た標準続j壊がクラス i 参照標準線源であり，同詰Ij度における認定事業者がその所有する特定一
次標準器を用いて校正した標準線源は，クラス 2参顛標準線源に当たる。
仲介湖定器でクラス 2 参照標準線源を校正するときのジオメトリは，クラス l 参照標準諒諒で仲介測定
器を校正したジオメトリと問ーでなければならない。
クラス 1 参照標準線源の表面放出率は，窓なしガスブ口一比例計数装盟などを用いた絶対測定によるか，
又は絶対測定でイ出付けし した測定器を用いて校正しな らない。また" に);î)
じて，クラス l 参照探準譲源の校正方法を明示しなければなちなし可3)。
放射性表面汚染モニタの形式試験を行う場合は，適切なクラス l 参照標準;線源又はクラス 2
者:f乍持去により されております。
3
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?1日{を用いる。放射性表而汚染モニタを校正する場合は，クラス l 参照標準線源，クラス 2 参照標準線源又
は実用標準線源を用いる。
注C) 他国の国家標準機関が校正したクラス l 参照標準線源を有効なものとしてもよい。
備考 実用標準線源は，放射性表面汚染モニタを設置場所で校正するためのものであって，動作確認
用の線源とは異なる。
放射性表面汚染モニタの校正に用いる実用標準線源の表面放出率は，仲介測定探を用いてクラス l 参照
標準線源又はクラス 2 参照標準線源と比較測定することによって校正する。
実用標準線源で、放射性表面汚染モニタを校正する場合に，校正用ジグを用いるか又は特定のジオメトリ
で校正するときは，同じジグ又は同じジオメトリで実用標準線源の表面放出率を校正できるように，仲介
測定器の校正をしなければならない。ただし，実用標準線源がジグから脱着できれば，一般的な方法で校
正してもよい。
高精度の校正を必要とする場合などには クラス 1 参照標準線源又はクラス 2 参照標準線源を実用標準
線源として用いてもよい。
5. 線源の特性，性能及び構造
5.1 一般仕様 線源構造には， {~Ijえば次のようなものがある。
一 導電性のパッキング材の表面又は表面層に放射性物質をマウントした線源。この場合のパッキング材
は，放射線粒子が線源の後方に放出しない十分な厚さでなければならなし)0
一 少なくとも飽和層厚さと等しい厚さの材質に放射性物質が一様に分布している線源。
参照標準線il日!の放射性核種純度は，他の妨害核種の影響が無視できる純度でなければならない。
備考 β線放出核種の不純物を定量することは難しい。 y 線を同時に放出する核種の場合には，ゲ、ル
マニウム半導体検出器などの高分解能スペクトロメータを利用して推測できる。不純物核種の
β線最大エネルギーEmaxが主核種のものより高ければ，残留最大エネルギーEres を測定すること
によって不純物を推定することも可能である。
β線最大エネルギーが O.4MeV 以上のβ線放IU核種に対する線源効率は， 0.25 より高くなければならな
い。 β線最大エネルギーが 0.15 MeV 以上， 0.4 MeV 未満のβ線放出核種及びα線放出核種に対する線源効
率は， 0.05 より高くなければならない。
5.2 クラス 1 参照標準線源
5.2.1 一般要求事項 クラス 1 参照標準線源は，導電性のパッキング材の表面又は表面層に放射性物質を
マウントし，自己吸収を最小限にした平面状の線、源でなければならなし)(4)。
注(4) クラス l 参照標準線源は，可能な限り自己吸収を少なくするために薄い線源であることが望ま
しいが， α線源及び低エネルギーβ線源については，自己吸収を無視することはできなし)0
放射能面積は， 100 cm2以上でなければならない。推奨するサイズは， 10 cmX1 5 cm である。
パッキング材は，後方散乱による粒子放出量が飽和するように十分厚くなければならない。推奨するパ
ッキング材質及び必要な最小の厚さを表 1 に示す。
線源には，次の事項を記載した校正証明書を添付しなければならないo
a) 公開法京射熊及。1基翌日
b) 放射能面積
c) 表而放出率，不確かさ及び基準日
d) 放射性核種及び半減期
著作権法により無断での懐製 転載浮は禁止されております。
4
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e) 線源番号
町 均一性
回線測のクラス
その他必要な惜報を校正証明書に記載してもよい。
には核種及び線源番号を表示しなければならない。
表 1 クラス 1 参額標準線源に推奨する核種及びパッキング材
| 器ホパη 九r三/グ材!享
核種 | 半減期
アルミニウム ステンレス鋼
keV mg/cm2
江un 訂un
14C 5730 156 22 0.08 0.03
147Pm 2.62 225 35 0.13 0.04
3X 105 710 170 0.6 0.20
3.78 763 180 0.7 0.23
28.5 2274 850 3.1 1.1
106Ru叩トI06Fミh 1.01 3540 13 00 4.8 1.7
241Am 432.6 5544 6 0.02 0.01
5.2.2 放射能及び表面放出率 クラス l パックグラウンド，計数率及び不!菖時
聞による不確かさ して， 20 00~10 000 どとなるようにすることが望ましい。
表而放出率比 し，不確かさは， 3 %以内とするの。
注(ちこ さは標準偏差とする。
5ム3 均一性 クラス 1 参賠標準線源における表面放出率のまちー牲は，土 10%とするの
5.2.4 核種 クラス 1 参賠標準線源の核種は，可能な限り次の接種から選ぶことが盟ましい(これち
は，表 1 を参照。〉。
a) a線放H\核種: 241Am
b) β線放出核種 14C， 147p民 36Cl， 204T1, 90Sr+90y(う
c) その他，同家標準機関が認める核撞(高エネルギーβ線源としては， J06Ru+I06Rh を推奨する。)。
注(行 フィルタ付きの争OSr十線源を合むo 90y からの高エネルギーβ録だけを利用するときは， 130
mg/cm2のブイルタが必要である。
5.3 クラス 2 参照棚準線源
三3.1 クラス 2 参賠標準譲源iこ対する一般要求事項は，クラス i と と
る
5.3.2 放射能及び表面放出率 クラス 2 参頭標準諒源の投射能は， ることが望まし
い。表面放出率は，仲介測定器を用いて校正L 不確かさを らない。クラス 2 参照標準
線源の表面放出率の不確かさは， 6%以内とする。
5.3.3 均一性クラス 2 における表面放出率の均一性は，土10 %でるることが望ましい。
5.3.4 *亥謹 クラス 2 クラス i 参照標準線源と同ーとする。
5.4 実用標準線源
5.4.1 に対する要求事項は，次の項目を考慮し る。
a) ニタの校正を実施するのに必要な数量と大きさ を しな
らない。
著存続j去により1rw断での複製噌 おります坊